Združeni tehnološki udar Amerike i Evrope na Kinu, pišu se nova pravila

© AP Photo / Ng Han GuanKina zastava
Kina zastava - Sputnik Srbija, 1920, 15.06.2021
Pratite nas
Sjedinjene Američke Države i Evropa će formirati zajednički tehnološki savet za izradu novih globalnih trgovinskih pravila.
Sjedinjene Američke Države i Evropa će formirati zajednički tehnološki savet za izradu novih globalnih trgovinskih pravila.
Kako izveštava Si-En-Bi-Si, "SAD i Evropa će objaviti danas novu zajedničku tehnološku i trgovinsku inicijativu, u okviru ovonedeljnih širih dalekosežnih napora američkog predsednika Džoa Bajdena da okupi evropske saveznike i suprotstavi se rastućem uticaju Kine".
Američko-evropski savet za trgovinu i tehnologiju imaće tri glavna cilja: da uspostavi nove globalne trgovinske standarde za tehnologije u usponu, da unapredi demokratske vrednosti na internet mreži, i da nađe modalitete za saradnju SAD i EU na istraživanjima i razvoju inovacija.
Džejk Salivan, američki savetnik za nacionalnu bezbednost izjavio je na brifingu za novinare da će krajnji ishod ove inicijatove biti da "demokratije, a ne bilo ko drugi, ne Kina ili druge autokratije, pišu trgovinska i tehnološka pravila za 21. vek", dodaje Si-En-Bi-Si.
Na američkoj strani, trgovinskim savetom će predsedavati državni sekretar Antoni Blinken, ministarka trgovine Đina Rejmondo i trgovinska predstavnica i ambasadorka Ketrin Tai, rekao je jedan zvaničnik iz Bajdenove administracije, koji je o ovom pitanju informisao novinare pod uslovom anonimnosti dok traju aktuelni pregovori.
Drugi specifični ciljevi saveta uključuju: koordinaciju standarda u oblasti novih tehnologija, kao šti su veštačka inteligencija, kvantno računarstvo i biotehnologije, zatim nalaženje načina da lanci snabdevanja postanu otporniji i manje zavisni od Kine, nastavak reformisanja Svetske trgovinske organizacije i koordinacija regulative za tehnološke platforme.
Pročitajte još: 
Sve vesti
0
Da biste učestvovali u diskusiji
izvršite autorizaciju ili registraciju
loader
Ćaskanje
Zagolovok otkrыvaemogo materiala