00:00
01:00
02:00
03:00
04:00
05:00
06:00
07:00
08:00
09:00
10:00
11:00
12:00
13:00
14:00
15:00
16:00
17:00
18:00
19:00
20:00
21:00
22:00
23:00
00:00
01:00
02:00
03:00
04:00
05:00
06:00
07:00
08:00
09:00
10:00
11:00
12:00
13:00
14:00
15:00
16:00
17:00
18:00
19:00
20:00
21:00
22:00
23:00
SPUTNJIK INTERVJU
07:00
30 min
ORBITA KULTURE
16:00
120 min
SPUTNJIK INTERVJU
20:30
30 min
SPUTNJIK INTERVJU
21:00
30 min
MOJ POGLED NA RUSIJU
21:30
30 min
SPUTNJIK INTERVJU
07:00
30 min
SPUTNJIK INTERVJU
„Aleksandar Prvi Karađorđević“
16:00
30 min
MILJANOV KORNER
Realnost je da se Partizan i Zvezda bore za mesto u plej-inu
17:00
30 min
SPUTNJIK INTERVJU
„Rozanov“
17:30
30 min
JučeDanas
Na programu
Reemiteri
Studio B99,1 MHz, 100,8 MHz i 105,4 MHz
Radio Novosti104,7 MHz FM
Ostali reemiteri

Zaharova: Crni dani američke diplomatije

© Sputnik / Valerij Meljnikov / Uđi u bazu fotografijaMarija Zaharova
Marija Zaharova - Sputnik Srbija
Pratite nas
Portparolka Ministarstva inostranih poslova Rusije Marija Zaharova je, komentarišući pretrese ruske diplomatske imovine u SAD, drugi septembar nazvala „crnim danom američke diplomatije“.
Pripadnici policije opkolili zgradu ruske trgovačke misije u Vašingtonu - Sputnik Srbija
Senzacionalno: Amerikanci prilikom pretresa konzulata tražili eksploziv

„U pitanju je ni manje ni više nego crni dan američke diplomatije i rada američkih specijalnih službi“, istakla je Zaharova.

Prema njenim rečima, iza svega toga stoji politički nalog budući da se radi o ogromnoj sumi novca koju je neko uložio.

„Reč je o nalogu onih koji su uložili pare i izgubili, onih koji ne mogu da prihvate taj poraz i da izađu pred ljude i kažu: ’Varali smo vas, ali smo izgubili, i sada se izvinjavamo‘“, rekla je Zaharova.

Podsetimo, SAD su u subotu preuzele kontrolu nad tri diplomatska objekta Rusije na američkom tlu — zgradom generalnog konzulata u San Francisku i sedištima trgovinskih misija u Vašingtonu i Njujorku. 

Sve vesti
0
Da biste učestvovali u diskusiji
izvršite autorizaciju ili registraciju
loader
Ćaskanje
Zagolovok otkrыvaemogo materiala