00:00
01:00
02:00
03:00
04:00
05:00
06:00
07:00
08:00
09:00
10:00
11:00
12:00
13:00
14:00
15:00
16:00
17:00
18:00
19:00
20:00
21:00
22:00
23:00
00:00
01:00
02:00
03:00
04:00
05:00
06:00
07:00
08:00
09:00
10:00
11:00
12:00
13:00
14:00
15:00
16:00
17:00
18:00
19:00
20:00
21:00
22:00
23:00
NOVI SPUTNJIK POREDAK
17:00
60 min
SPUTNJIK INTERVJU
21:00
30 min
SPUTNJIK INTERVJU
07:00
30 min
SPUTNJIK INTERVJU
Aleksa Jelić: Zemlja bez kulture je zemlja bez identiteta
16:00
30 min
OD ČETVRTKA DO ČETVRTKA
Da li će pregovori Rusije i Amerike uključiti – Srbiju
17:00
60 min
JučeDanas
Na programu
Reemiteri
Studio B99,1 MHz, 100,8 MHz i 105,4 MHz
Radio Novosti104,7 MHz FM
Ostali reemiteri

Stejt department: Ruski novinari slobodno mogu da postavljaju pitanja

© AP Photo / Manuel Balce CenetaSekretar za štampu Ministarstva odbrane SAD, admiral Džon Kirbi
Sekretar za štampu Ministarstva odbrane SAD,  admiral Džon Kirbi - Sputnik Srbija
Pratite nas
Ruski novinari imaju, a imaće i u budućnosti mogućnost da na brifinzima Stejt departmenta postavljaju pitanja, izjavio je portparol te spoljnopolitičke institucije Džon Kirbi.
Evropski parlament - Sputnik Srbija
Evropski parlament usvojio rezoluciju o borbi protiv Sputnjika i RT

„Imam određene sumnje kada je reč o nezavisnosti određenih ruskih medija, ali vi možete da dolazite ovde i postavljate pitanja kakve želite“, rekao je on i dodao da mu „nije poznato da postoji bilo koja druga vlast koja bi se trudila da odgovara na sva pitanja novinara“.

Istovremeno, Kirbi je ocenio da je Vašington u više navrata izražavao sumnju kada je reč o naporima Rusije da manipuliše informacijama.

Ova diskusija je inicirana nedavnom odlukom Evropskog parlamenta da usvoji rezoluciju o borbi protiv ruskih medija.

„Nisam video tu rezoluciju. Moram to pitanje da analiziram“, dodao je Kirbi i ocenio da Sjedinjene Države ne porede Sputnjik i RT sa propagandom koju sprovodi teroristička organizacija DAEŠ.

Sve vesti
0
Da biste učestvovali u diskusiji
izvršite autorizaciju ili registraciju
loader
Ćaskanje
Zagolovok otkrыvaemogo materiala