Zašto Holandija nije dobila američka dokumenta o padu „boinga 777“

© Sputnik / Maša Ross / Uđi u bazu fotografijaOlupina malezijskog „boinga 777“ sa leta MH17
Olupina malezijskog „boinga 777“ sa leta MH17 - Sputnik Srbija
Pratite nas
Zvanični predstavnik Stejt departmenta Mark Toner izjavio je da mu nije poznato na kom se nivou vrši saradnja između Vašingtona i holandskih istražitelja o padu „boinga 777“ na nebu iznad Ukrajine u julu 2014. godine.
Olupina malezijskog „boinga 777“ sa leta MH17 - Sputnik Srbija
Ukrajina i Holandija za produžetak istrage o MH17

Holandsko tužilaštvo odgovorilo je na pismo porodica poginulih u Donjeckoj oblasti prilikom pada „boinga 777“ koji je leteo iz Amsterdama za Kuala Lumpur. U pismu je šef resora naveo nove informacije o toku istrage. U holandskom parlamentu su one mnoge iznenadile. Resor je saopštio da holandski istražitelji ne raspolažu ni sa podacima radara niti sa snimcima sa mesta lansiranja rakete zbog velike oblačnosti koja nad Donbasom na dan katastrofe. Ova izjava je mnoge dovela u nedoumicu jer je nekoliko godina nakon pada aviona u julu 2014. godine državni sekretar SAD Džon Keri rekao da Vašington poseduje detaljne informacije o incidentu.

„Dobili smo sliku lansiranja rakete, znamo njenu putanju, znamo odakle je ispaljena. Čak znamo i vreme lansiranja. To je upravo vreme kada je avion nestao sa radara“, saopštio je on.

Gde su nestale te slike i podaci radara? Zašto dve godine nakon tragedije Tužilaštvo Holandije saopštava da istraga ne raspolaže dokazima? Na ova pitanja zvanični predstavnik Stejt departmenta Mark Toner nije znao da odgovori.

„Mi smo pružili podršku holandskoj istrazi, ali ne znam na kom nivou se održava saradnja. Ne znam u kom stepenu smo delili podatke. Moram da proverim informacije“, izjavio je Toner.

Predstavnik Stejt departmenta navodno ne raspolaže informacijom o tome koji su podaci predati istrazi, ali je obećao da će to razjasniti.

Sve vesti
0
Da biste učestvovali u diskusiji
izvršite autorizaciju ili registraciju
loader
Ćaskanje
Zagolovok otkrыvaemogo materiala